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華測儀器SIR-450寬溫域絕緣電阻率測試系統(tǒng)汽車零部件需要在不同的氣候條件下進行試驗，以評估其耐用性和可靠性。車輛在不同氣候條件下會遇到各種異常溫度，因此汽車...

華測儀器SIR-450高低溫介電絕緣測試系統(tǒng)采用測量前等待的方式，讓材料受熱更均勻；除去不規(guī)則輸入的自動平均值功能；除去電網(wǎng)諧波對采集精度的影響。

華測儀器SIR-450半導(dǎo)體高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下，高分子聚合物材料在高溫環(huán)境下具有負(fù)阻性的...

華測儀器 HCVP系列高低溫真空探針臺采用真空-溫度協(xié)同控制，液氮制冷與電極加熱復(fù)合控溫，控溫穩(wěn)定性±0.1K。

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC測試系統(tǒng)熱刺激去極化電流（TSDC）技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度...

半導(dǎo)體封裝材料高壓TSDC熱刺激測試系統(tǒng)統(tǒng)熱刺激去極化電流（TSDC）技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質(zhì)樣品暴露在高...

功率器件高壓TSDC測試系統(tǒng)無機材料氧化鋁統(tǒng)熱刺激去極化電流（TSDC）技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質(zhì)樣品暴露在...

功率器件有機材料環(huán)氧樹脂TSDC測試系統(tǒng)熱刺激去極化電流（TSDC）技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。TSDC方法包括極化過程，在該過程中，電介質(zhì)樣品暴露在高電...

絕緣材料高溫絕緣電阻測試平臺，針對絕緣材料電阻評價平臺做了多項安全設(shè)計，測試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程的安全；資料保存機制，當(dāng)遇到電...

華測半導(dǎo)體封裝材料熱釋電系數(shù)測試儀，基于熱釋電動態(tài)電流法設(shè)計,由溫度控制器、加熱爐體、微電流放大器、溫度測試儀以及計算機軟件系統(tǒng)組成。溫度控制器控制加熱爐體內(nèi)部...

半導(dǎo)體封裝材料熱激勵去極化電流測量系統(tǒng)，測試儀器是電介質(zhì)材料在受熱過程中建立極化態(tài)或解除極化態(tài)時所產(chǎn)生的短路電流。試樣的去極化電流隨溫度的變化關(guān)系，即為TSDC...

半導(dǎo)體封裝材料綜合性分析探針臺，可用于12英寸以內(nèi)樣品測試；操作便捷，功能其全，高效精準(zhǔn)；可滿足晶片測試、光電器件測試、PCB/IC測試、射頻測試、高壓大電流測...

半導(dǎo)體封裝材料簡易探針臺/滿足I-V/C-V測試，可滿足I-V/C-V，PIV測試，光電測試等；外形輕盈，操作方便，價格實惠；

半導(dǎo)體封裝材料熱刺激電流測試儀器，比現(xiàn)有的高低溫阻抗分析儀，增加了TSDC、熱釋電、電阻、擊穿等測量功能。方便擴展高低溫測試環(huán)境。在功能材料的電學(xué)測試，可輕松實...

半導(dǎo)體封裝材料高低溫絕緣電阻測試系統(tǒng)高低溫環(huán)境下的絕緣電阻測試技術(shù)用于預(yù)測EMC的HTRB性能。電介質(zhì)樣品暴露在高電場強度和高溫環(huán)境下。在這種情況下，高分子聚合...

半導(dǎo)體材料真空探針臺電學(xué)性能測試系統(tǒng)是一種能夠在高真空環(huán)境下進行精確測量和實驗的設(shè)備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現(xiàn)象和特性，對樣品進行各種實驗和測量。在高...

半導(dǎo)體封裝材料4英寸真空探針臺帶顯微鏡是一種能夠在高真空環(huán)境下進行精確測量和實驗的設(shè)備。其基本原理是利用真空環(huán)境下的物理現(xiàn)象和特性，對樣品進行各種實驗和測量。在...

絕緣材料高溫絕緣電阻測試平臺，針對絕緣材料電阻評價平臺做了多項安全設(shè)計，測試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程的安全；資料保存機制，當(dāng)遇到電...

半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)，針對絕緣材料電阻評價平臺做了多項安全設(shè)計，測試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程的安全；資料保存機制，當(dāng)...

半導(dǎo)體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)，針對絕緣材料電阻評價平臺做了多項安全設(shè)計，測試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程的安全；資料保存機制，當(dāng)...